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兩種變頻串聯(lián)諧振試驗(yàn)成套裝置故障分析
發(fā)布日期：2021-04-15 點(diǎn)擊：3080次
四方國瑞電力是專業(yè)生產(chǎn)變頻串聯(lián)諧振試驗(yàn)成套裝置的廠商，其串聯(lián)諧振產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性高，自動(dòng)調(diào)諧功能強(qiáng)大，支持多種試驗(yàn)?zāi)Ｊ?，系統(tǒng)人機(jī)交互界面友好，保護(hù)功能完善。
一、變頻串聯(lián)諧振試驗(yàn)成套裝置閃絡(luò)現(xiàn)象
在氣態(tài)或液態(tài)介質(zhì)中，沿固體絕緣表面發(fā)生破壞性放電時(shí)，稱為閃絡(luò)，閃絡(luò)現(xiàn)象是指當(dāng)固體絕緣子周圍的氣體或液體介質(zhì)擊穿時(shí)，擊穿電壓沿固體絕緣子表面放電的現(xiàn)象，閃絡(luò)現(xiàn)象其放電電壓稱為閃絡(luò)電壓，當(dāng)絕緣體閃爍時(shí)，電極之間的電壓迅速下降到零或接近零，閃絡(luò)通道中的火花或電弧會(huì)導(dǎo)致絕緣表面局部過熱和碳化，從而損壞表面絕緣。
沿氣體和固體介質(zhì)界面的閃絡(luò)是常見的現(xiàn)象，例如，沿絕緣子串表面，沿套管表面的破壞性放電稱為閃絡(luò)，“閃絡(luò)”一詞用于特殊條件下的放電現(xiàn)象。
二、變頻串聯(lián)諧振試驗(yàn)成套裝置放電現(xiàn)象
放電現(xiàn)象是一個(gè)普遍的概念，它一般是指絕緣材料在電場(chǎng)作用下從絕緣態(tài)向?qū)щ姂B(tài)跳躍的現(xiàn)象，這種現(xiàn)象可能發(fā)生在電極之間以“通”的形式出現(xiàn)，即絕緣材料被短路完全破壞，此時(shí)電極間的電壓迅速降至極低或接近零，稱其為破壞性放電。跳躍現(xiàn)象也可能發(fā)生在電極之間的局部區(qū)域，使絕緣材料部分短接，其余絕緣材料具有良好的絕緣性能，電極間的電壓仍能保持一定的值，稱為局部放電。
破壞性放電和局部放電可用于所有的電介質(zhì)及其組合，然而，放電發(fā)生在不同的電介質(zhì)中，它們的組合有一個(gè)特殊的名稱，當(dāng)在氣體或液體介質(zhì)中，電極之間的破壞性放電稱為火花放電，如在氣隙、油隙中的破壞性放電，準(zhǔn)確地說，應(yīng)該是火花放電。
當(dāng)固體介質(zhì)中發(fā)生破壞性放電時(shí)，稱為擊穿，當(dāng)擊穿發(fā)生時(shí)，固體電介質(zhì)中會(huì)留下痕跡，使固體電介質(zhì)失去絕緣性能，如果絕緣紙板突破，就會(huì)在紙板上留下一個(gè)洞。
串聯(lián)諧振的相關(guān)知識(shí)
一、定義
在電阻、電感及電容所組成的串聯(lián)電路內(nèi)，當(dāng)容抗XC與感抗XL相等時(shí)，即XC＝XL，電路中的電壓U與電流I的相位相同，電路呈現(xiàn)純電阻性，這種現(xiàn)象叫串聯(lián)諧振，當(dāng)電路發(fā)生串聯(lián)諧振時(shí)，電路的阻抗Z=√R2+XC-XL2=R,電路中總阻抗最小，電流將達(dá)到最大值。
二、危害性
發(fā)生諧振時(shí)，由于感抗和容抗相等，所以電感和電容兩端的電壓有效值相等，即：UL=UC，又由于其相位相反，因此這兩個(gè)電壓是相互抵消的，在電容或電感的電壓有效值為：UL=UC＝XLI0=ω0LIO=ω0LU/R，式中ω0L/R稱為諧振電路的品質(zhì)因數(shù)，它代表電壓比，即UC/U或UL/U。
品質(zhì)因數(shù)是衡量諧振電路特性的一個(gè)重要參數(shù)，如電路中電抗越大，電阻越小，則品質(zhì)因數(shù)越高，因此電容或電感上的電壓值將比外加電壓大的多，一般電感、電容諧振電路的品質(zhì)因數(shù)可達(dá)幾十甚至幾百，所以串聯(lián)諧振又叫電壓諧振，在電力系統(tǒng)中，串聯(lián)諧振將會(huì)產(chǎn)生高出電網(wǎng)額定電壓數(shù)倍的過電壓，對(duì)電力設(shè)備的安全造成很大危害。
在R-L-C串聯(lián)電路中，出現(xiàn)線路端電壓和電流同相位的現(xiàn)象叫串聯(lián)諧振。
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