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高壓試驗詳解|泄漏電流試驗和直流耐壓試驗
發(fā)布日期：2020-05-12 點擊：3291次
由于絕緣電阻測量的局限性，所以在絕緣試驗中就出現(xiàn)了測量泄漏電流的項目。關(guān)于泄漏電流 （ｉＬ） 的概念在上節(jié)中已加以說明。測量泄漏電流所用的設(shè)備要比兆歐表復(fù)雜，一般用直流高壓發(fā)生器進行測試。
由于試驗電壓高，所以就容易暴露絕緣本身的弱點，用微安表直測泄漏電流，這可以做到隨時進行監(jiān)視，靈敏度高。并且可以用電壓和電流、電流和時間的關(guān)系曲線來判斷絕緣的缺陷。因此，它屬于非破壞性試驗的方法。
直流耐壓試驗往往可以發(fā)現(xiàn)一些交流耐壓試驗中不易發(fā)現(xiàn)的局部缺陷，如發(fā)電機的端部絕緣缺陷，同時還具有試驗設(shè)備較輕便，沒有極化損失，對絕緣的破壞比交流電壓要小得多等特點，所以得到了廣泛的使用。它是屬于破壞性的試驗。它和交流耐壓試驗是互補的，不能互相代替。而試驗電壓值對各種電氣設(shè)備是不同的。
由上節(jié)所述，將直流電壓加到絕緣上時，其泄漏電流是不衰減的，在加壓到一定時間以后，微安表的讀數(shù)就等于泄漏電流值。絕緣良好時，泄漏電流和電壓的關(guān)系幾乎呈一直線，且上升較??；絕緣受潮時，泄漏電流則上升較大；當(dāng)絕緣有貫通性缺陷時，泄漏電流將猛增，和電壓的關(guān)系就不是直線了。因此，通過泄漏電流和電壓之間變化的關(guān)系曲線就可以對絕緣狀態(tài)進行分析判斷。
試驗裝置的原理接線：
位置I：微安表處于高電位，測量準確，但微安表對地絕緣應(yīng)良好。
測量泄漏電流和直流耐壓（試驗接線圖）
Ｔ１ －自耦變壓器；Ｔ２ －升壓變壓器；Ｖ －高壓整流硅堆；Ｒ １ －保護電阻；
μＡ －微安表；Ｃ －穩(wěn)壓電容器；ｍ Ａ －測壓用毫安表；Ｒ －測壓用電阻；Ｃ ｘ －被試品；ｒ －保護電阻
位置Ⅱ：微安表處于低電位，讀數(shù)方便，但測量有誤差。
位置Ⅲ：微安表處于低電位，讀數(shù)方便， 測量準 確，但被 試品下 端不能 直接 接地，
這是優(yōu)先采用的位置。
影響因素
（1） 溫度的影響。當(dāng)溫度升高時，泄漏電流增大，所以在 《電力設(shè)備預(yù)防性試驗規(guī)程》 中規(guī)定發(fā)電機在停機后清除污穢前熱狀態(tài)下進行。處于備用狀態(tài)時，可在冷態(tài)下進行 （應(yīng)在＋５ ℃以上進行）。
（2）表面污染的影響。由于實測的泄漏電流應(yīng)該是容積泄漏電流，所以應(yīng)對被試設(shè)備的表面應(yīng)進行清掃和干燥，以消除表面泄漏電流的影響，也可采用屏蔽環(huán)將表面泄漏電流短路而不流過微安表。
（3）加壓速度的影響。加壓速度過快，將影響吸收過程的完成，對電容量大的設(shè)備就有影響。在 《電力設(shè)備預(yù) 防性試 驗規(guī)程》 中規(guī) 定試驗 電壓按 每級 ０．５ｕ ｎ（ｕｐ ：額 定線電壓） 分階段升高，每階段停留１ ｍｉｎ 。
（4）微安表位置和高壓連線的影響。這主要是雜散電流和電暈電流的影響。應(yīng)按制造廠說明書接線及加屏蔽。
（5）試驗電壓波形和極性的影響。要求試驗電壓的電源波形是正弦波形（交 流）。對油紙絕緣用負極性試驗易于發(fā)現(xiàn)絕緣缺陷；對少油斷路器等泄漏電流較小的設(shè)備可采用正極性試驗電壓。按 《電力設(shè)備預(yù)防性試驗規(guī)程》 要求，一般情況下應(yīng)采用負極性接線。
（6）濕度影響。和絕緣電阻相似，應(yīng)在空氣相對濕度80 ％以下進行。
分析判斷
（1） 泄漏電流隨電壓不成比例顯著增長時，應(yīng)注意分析。
（2） 泄漏電流應(yīng)不隨時間的延長而增長。
（3） 所測得的泄漏電流值不應(yīng)超出一般允許值。
（4） 將數(shù)值與過去數(shù)據(jù)、各相間和同類設(shè)備相比較。
（5） 應(yīng)排除濕度、溫度、污染等影響因素。
（6） 對直流耐壓試驗的判斷為：
①被試品發(fā)生擊穿。此時微安表指示突然增高或電壓表指示明顯下降。
②被試品發(fā)生間隙性擊穿。此時微安表指示周期性地大幅度擺動。但應(yīng)排除電源波動、表面污染等影響。
③耐壓后的絕緣電阻比耐壓前顯著降低時，則絕緣有問題，甚至已擊穿。
④泄漏電流比上次試驗變化很大，隨電壓升高或時間的延長而急劇上升時，應(yīng)查明原因。
