技術(shù)天地
絕緣電阻測量
發(fā)布日期：2020-05-29 點擊：1279次
絕緣電阻是與帶電部件（住宅電纜）并聯(lián)的電阻。介電狀態(tài)和電阻狀態(tài)之間沒有絕對差異，因為根據(jù)條件，同
一物質(zhì)既可以是電介質(zhì)又可以是電阻器。區(qū)分物質(zhì)在電阻和電介質(zhì)中的行為的主要條件是基于麥克斯韋電介質(zhì)
弛豫時間的概念，電介質(zhì)最簡單的等效電路是具有并聯(lián)電阻的電容器。
真正的絕緣結(jié)構(gòu)并不總是由均勻的電介質(zhì)組成。它們可能包含不同電介質(zhì)的成分，也可能僅具有界面。即使在
這種情況下，也會出現(xiàn)電導(dǎo)率的新特征，特別是，不僅應(yīng)考慮電介質(zhì)本身的電導(dǎo)率，還應(yīng)考慮界面。邊界的存
在本身不會改變結(jié)構(gòu)的電導(dǎo)率，但是表面不可避免地包含化學(xué)活性元素。與空氣接觸時，表面富含空氣中所含
的物質(zhì)。已知即使與清潔的空氣接觸，水也被吸附在表面上，例如，在氧化物的表面上最多可以包含100個分子
層的水。發(fā)生表面電導(dǎo)率，即 電導(dǎo)率與電荷載體在表面上的出現(xiàn)和移動有關(guān)。
考慮到以絕緣電阻測試儀為單位的表面電導(dǎo)電阻，例如MIC-1000電阻表，濕度計和電絕緣的老化程度，MIC-
2500，MIC-5000和MIC-3絕緣表，接地導(dǎo)體和電勢均衡，請使用三重鉗位方法-高壓連接器得出“中點”-“
E”的結(jié)論。使用時，要考慮表面電導(dǎo)率電流來調(diào)整結(jié)果。一個很好的例子是測量屏蔽層和一根電纜芯之間的絕
緣電阻。
黑色表示被測芯的絕緣層周圍有金屬箔。在漏電流I R-E 和I E-COM不相等 的情況下，我們沿界面具有表面
電導(dǎo)率的情況。
絕緣電阻R ISO 表征通漏電流I SLE （R ISO = U adj / I SLE）。直通電流I cc （泄漏電流）在恒定電壓
的影響下流過電介質(zhì)，這是由于電介質(zhì)中存在不同性質(zhì)的自由載流子。
在接通恒定電場時，由于極化的快速形式，I cm的偏置電流流經(jīng)電容器的電介質(zhì)
在非極性均質(zhì)電介質(zhì)中，然后建立直通電流-I SLE。吸收電流也流過極性和非均質(zhì)的電介質(zhì)-I abs，這是由與
延遲（松弛）極化建立相關(guān)的電流的有源分量引起的。
為了在測量的初始階段排除大電流的流動，絕緣電阻表會限制流動的電流量，從而消除對絕緣的可能損害。輸
出電流限制為1 mA。
隨著被測物體的電容充電（通過直流電），兆歐表端子上的電壓（線性）增加。然后設(shè)定工作點-電壓達到設(shè)定
值并且電流穩(wěn)定（該電流是電介質(zhì)I SLE的通過電流）。
在測量過程中累積的電荷是潛在威脅的來源，在設(shè)備測量結(jié)束時，電荷會自動放電（通過內(nèi)部電阻器）。在恒
定電壓下進行測量以最大程度地減小電容對測量結(jié)果的影響。
從操作的角度來看，絕緣材料的狀態(tài)由兩個系數(shù)來表征-吸收系數(shù)（介電吸收比-DAR）和極化指數(shù)（極化指數(shù)-
PI）。
吸收系數(shù)表征絕緣材料的水分含量。吸收系數(shù)是絕緣電阻測試儀在施加電壓后60秒鐘（R 60）和從絕緣電阻測
試儀開始施加測試電壓（R 15）后15秒鐘測得的電阻之比：abs = R 60 / R 15。
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